是德科技(Keysight Technologies)日前宣布中国赛宝实验室(CEPREI Laboratory)采用Keysight EEsof EDA E4727A先进低频杂讯分析仪(A-LFNA)进行闪变杂讯(1/f杂讯)和随机电报杂讯(RTN)的量测与分析，以增进半导体元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究。
Keysight EEsof EDA元件建模产品经理马龙表示，低频杂讯是半导体材料和制程中一个敏感且重要的指标，目前已广泛用于可靠性、新材料和新型元件研究。该公司致力于强化与赛宝实验室等各家全球研究机构及大专院校的合作，以便鼎力支援相关研究工作。
Keysight EDA的E4727A高效能型低频杂讯分析仪可进行快速、准确且可重复的低频杂讯(LFN)量测。该产品支援闪变杂讯和随机电报杂讯的晶圆映射量测和资料分析，并提供可重复和可靠的量测结果，适用于半导体材料和积体电路制程的开发、验证和监测。
赛宝实验室**工程师刘远指出，E4727A解决方案能确保在低系统杂讯下的**量测，并且拥有业界较宽的频率和偏压量测范围，可支援该单位各类元件与应用的研究。该单位期待与是德科技在校验方法和标准化方面展开更进一步的合作。
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