是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前宣布中国赛宝实验室(CEPREI Laboratory)采用Keysight EEsof EDA E4727A先进低频杂讯分析仪(A-LFNA)进行闪变杂讯(1/f杂讯)和随机电报杂讯(RTN)的量测与分析，以增进半导体元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究。
Keysight EDA的E4727A高效能型低频杂讯分析仪可进行快速、准确且可重复的低频杂讯(LFN)量测。E4727A支援闪变杂讯和随机电报杂讯的晶圆映射量测和资料分析，并提供可重复和可靠的量测结果，特别适合用于半导体材料和积体电路制程的开发、验证和监测。
赛宝实验室又称中国电子产品可靠性与环境试验研究所，致力于电子产品的品质和可靠性研究。直接隶属于中国工业和资讯化部(MIIT)的赛宝实验室，不仅每年为工信部和地方政府的产业管理提供技术支援和服务，同时也为上万家电子资讯公司提供相关服务。
赛宝实验室**工程师刘远博士表示：“我们经过**的技术评估后，选择了是德科技的E4727A解决方案。其**的效能确保在低系统杂讯下的**量测，并且拥有业界*宽的频率和偏压量测范围，可支援我们各类元件与应用的研究。我们期待与是德科技在校验方法和标准化方面展开更进一步的合作。”
Keysight EEsof EDA 元件建模产品经理马龙博士表示：“我们很高兴赛宝实验室成为我们低频杂讯量测系统的另一个新的示范点。低频杂讯是半导体材料和制程中一个非常敏感且重要的指标，目前已广泛用于可靠性、新材料和新型元件研究。是德科技致力于强化与赛宝实验室等各家全球**研究机构以及大专院校的合作，以便鼎力支援相关研究工作。”
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