Mentor Graphics推出全新 Calibre® xACT™ 寄生电路参数提取平台，该平台可满足包括 14nm FinFET 在内广泛的模拟和数字电路参数提取需求，同时*大限度地减少 IC 设计工程师的猜测和设置功夫。 Calibre xACT 平台可借由自动优化电路参数提取技术，针对客户特定的工艺节点、产品应用、设计尺寸大小及电路参数提取目标，实现精准度和周转时间 (TAT) 的*佳组***用 Calibre xACT 平台进行电路寄生参数提取在满足*严格的精准度要求的同时，还让客户体验到了减少高达 10 倍的周转时间。
Samsung 在用于 14nm 技术的 Calibre xACT 平台的开发和认证方面与 Mentor Graphics 有着广泛的合作，并凭借该平台的高精准度性能将其应用于技术开发。
Calibre xACT 产品能够将单个规则档案应用于一系列电路参数提取应用，使客户能够兼顾精准度和快速 TAT(Turn Around Time)，且无需手动修改其规则档案或工具配置。
“我们在对**的电路参数提取产品进行了仔细的基准检验后，选择了将Calibre xACT作为签核电路参数抽取工具标准并应用到我们所有的新一代设计中，”Cypress Semiconductor 公司 CAD 总监 Dragomir Nikolic 说道。 “包括在90 nm和65 nm制程节点上的产品。我们发现，在众多目标在***工艺节点电路参数提取产品中，Calibre xACT 可提供高精准度和快速周转时间的*佳组合。此外，我们也看到 Calibre xACT电路参数提取工具有能力在各种各样的应用(从晶体管级别到全芯片数字电路参数提取)中产生*佳结果，这种能力是非常有价值的。”
在整个设计周期内，电路设计工程师必须在性能和精准度之间权衡取舍。寄生电路参数提取也不例外。在使用较为复杂的FinFET组件的先进工艺节点上，设计工程师始终致力于追求更为严苛的精准度，也需要更高的性能和容量来实现十亿级晶体管设计。事实上，在现代 IC 中，所有制程节点都随着内存、模拟电路、标准单元库以及客制化数字内容的混合变得日益复杂。这种复杂性为电路参数提取工具带来了一系列不同的挑战。为了应对这些挑战，CalibrexACT平台将精简模型、解电磁场技术(Field Solver)以及高效的多 CPU 扩展 (scaling)技术融为一体，以确保实现有可靠精准度并满足计划所要求的期限。
CalibrexACT电路参数提取平台与整个Calibre产品线整合，实现了无缝验证流程，其中包括用于完整晶体管级模型的CalibrenmLVS™ 产品，以及用于针对极高精准度电路参数提取应用的CalibrexACT 3D 产品。此外，它还纳入了第三方设计环境和格式，以确保与现有的设计和仿真流程相兼容。
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