SuperFET III MOSFET满足耐用与可靠要求

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Fairchild推出其SuperFET III 650V N通道MOSFET系列。新一代MOSFET能够满足*新的电信、伺服器、电动汽车(EV)充电器及光伏产品对于更高功率密度、系统效率及出色的可靠性方面的要求。

SuperFET III MOSFET系列兼具同类*佳的可靠性、低EMI、出色的效率以及**的热效能,使其成为高效能应用的理想选择。除了出色的效能特性,其广泛的封装选择更是锦上添花,赋予产品设计者更大的灵活性,对于尺寸受限的设计尤其如此。

在任何驱动简易的超接面MOSFET中,SuperFET III技术均可实现*低Rdson,同时提供同类*佳效率。该产品能够实现这一优势是因为它采用了先进的电荷平衡技术,相较其SuperFET II前代产品,在封装尺寸相同的情况下,Rdson可降低44%。

SuperFET III系列具有**的耐用性及可靠性,其中的关键因素在于其同类*佳的体二极体以及优于其*相近竞争产品三倍的单脉冲崩溃能量(EAS)效能。

650V SuperFET III系列在关断期间具有较低的峰值汲源极电压,在低温运行时可增强系统可靠性,因为相较于室温,在接面温度为-25℃的条件下,崩溃电压自然而然地降低5%,且峰值汲源极电压在低温下会增加。

这些可靠性优势对于诸如光伏逆变器、不间断电源(UPS)及EV充电器等应用尤其重要,此类应用必须能够耐受更高或更低地外部环境温度。SuperFET III MOSFET系列今日上市,提供多种封装及参数选择。

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