罗德史瓦兹(R&S)新推出衰减系数1：1的被动探棒RT-ZP1X，再次拓展了R&S示波器的应用范畴。R&S探棒与示波器的前端，仅有极小的杂讯，两者结合使其成为量测低至1 mV/div极小讯号的理想选择，如积体电路和元件的电源完整性测试。
现阶段许多产业对于电源测试的要求明显增加，尤其在嵌入式设计领域，开发人员藉由整合愈来愈多的功能模组到极小空间，来降低系统功耗；因此，电源完整性测试在相关应用中是至关重要的。开发人员及工程师需要测量电路中，毫伏特范围的讯号，进而研究元件的杂讯特性。为了获得更准确的量测结果，一款具有合适灵敏度、低杂讯的探棒是不可或缺的。
新款R&S RT-ZP1X被动探棒，能够和R&S RTE系列示波器(频宽达2GHz)及R&S RTO1000/2000系列示波器(频宽达4 GHz)精准配合。该探棒搭配R&S RTE系列示波器，提供了电源完整性量测应用中，*佳性价比的解决方案。即使在1MΩ输入阻抗的情况下，示波器的低杂讯前端，亦可实现低于650 μVpp的背景杂讯 (1mV/div、频宽200MHz)。而一般示波器仅能在50Ω输入阻抗下，才能达到相同等级的杂讯值。
藉由高达每秒一百万次的波形捕获率，使用者可快速地获得测量结果，完成长条图和其他讯号分析。在16位元高解析度的缩放模式下，也可针对*小的讯号细节进行分析与触发。
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