是德科技(Keysight)日前宣布推出BGA(球栅阵列)内插式探棒解决方案--W4636A DDR4×16 BGA，让使用者可使用逻辑分析仪测试DDR4×16 DRAM(动态随机存取记忆体)设计，快速准确地撷取位址和指令信号，以及资料信号的子集，以便对资料传输速率高达2,400 Mb/s的设计进行除错并执行效能验证量测。
台湾是德科技总经理张志铭表示，使用者需要多元的DDR4 BGA内插式探棒选择，以便因应各种不同系统设计的要求。利用该内插式探棒和U4154B逻辑分析仪系统，使用者可在探量空间狭小的限制下，**测试系统所使用的DDR4×16 DRAM。
新方案让使用者能以低负载，直接存取符合JEDEC标准的DDR4×16 96-ball DRAM，且不会减损嵌入式系统设计的信号完整性；并可与Keysight U4154B逻辑分析系统、E5847A ZIF(零插入力)探棒和U4201A缆线搭配使用，以便对DQ(资料)的ADD/CMD和子集，进行功能相符性测试、效能验证和分析。
而Keysight U4154B逻辑分析模组具有4-Gb/s状态速度，让使用者能对特定事件进行可靠的触发并且撷取DDR4讯务。若与新的DDR4内插式探棒解决方案、B4621B DDR***和B4622B相符性测试软体工具搭配使用，该模组可协助使用者洞察速度高达2,400Mb/s的上资料位元组通道，以提供记忆体产业之系统整合所需的功能性测试。
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