爱德万测试(Advantest)将在位于东南亚国际半导体展(SEMICON Southeast Asia)的摊位，展示*新半导体 测试解决方案。 东南亚国际半导体展将于 2017 年 4 月 25 ～27 日假马来西亚槟城体育馆(SPICE Arena)盛 大展开，爱德万测试为本次大会的银级赞助商。
爱德万测试本次参展以量测互联网世界及其事物(Measure the Connected World and Everything in It)为主 题，于 B139 摊位展示 EVA100 量测系统，该系统无论是针对设计，还是产品的量测作业，都采用相同 的测试序列，客户得以在整个作业过程中建立标准化的量测环境，大幅缩短产品上市的时程。
EVA100 系统采用诉诸于直觉的图形化辅助用户操作接口(GUI)，故不需要复杂的程序语言。 爱德万测 试将在摊位内外举行多场会议，和与会贵宾讨论 EVA100 与该公司多元的 ATE 解决方案产品组合。
此外，爱德万测试**研发暨应用工程师 Shang Yang 博士，将于 4 月 26 日在 IC 失效分析论坛(IC Failure Analysis Forum)，发表运用超高分辨率 TDR 系统之高密度 LSI 失效分析技术(High-Density LSI Failure Analysis Technology Using an Ultra-High Resolution TDR System)论文。
不仅如此，爱德万测试职员应用工程师 Tuttipattu Ramaswamy Sujanandan，也将于 4 月 27 日在产品与 系统测试论坛(Product & System Test Forum)发表物联网--创造经济合算的多测试埠 RF 解决方案(IoTCreating a Cost Effective High MultiSite RF Solution)论文。
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