2016年SEMICONJapan国际半导体展预计12月登场，爱德万测试（Advantest）将展示4大物联网应用测试解决方案。
2016年SEMICON Japan国际半导体展即将于12月14日到16日在日本东京举办，半导体自动测试设备大厂爱德万将针对物联网各式应用展示测试解决方案。
爱德万表示，展出的产品将以工业、无线/穿戴式装置、智慧家居以及连网汽车等物联网应用常见的4大类型为主。产品包括测试与测量平台、模组与通道卡、电子束测量与光刻工具、测试分类机、可供下载的测试程式、烧机测试系统、探针卡与现场服务等。
现场爱德万也将透过虚拟实境（VR）展示以及数位绘图，提供技术见解，秀出*新IC测试**技术。
在12月15日下午自驾与车连网论坛上，爱德万表示也将发表“物联网社会与测试技术”的技术论文。
爱德万近期积极布局奈米和太赫兹（terahertz）技术应用，近日推出有关光罩制造的多视角量测扫描式电子显微镜，以及突破技术限制的3D成像与分析工具。
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