0引言
LTE(Long Term Evolution长期演进)技术是第三代移动通信演进的主要方向。作为一种先进的技术，LTE系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、频谱利用率、控制面和用户面时延以及降低运营和建
图1 配置1时HARQ时序图
在配置1时，上行只在子帧2、3、7和8四个位置发送上行信号;下行由基站在子帧1、4、6和9发送ACK/NACK指令，指令的指示对象及重传位置关系如图1所示。
2测试平台
2.1 硬件平台
性支持2天线接收的TD-LTE eNB基站、安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪PXB、安捷伦矢量信号发生器MXG(主要用于上变频)以及一台四通道示波器(用于系统调试)。测试系统结构如下：
图2 N5106 PXB测试系统
PXB实时产生TD-LTE上行信号并经过特定信道模型下的衰落后，输出的基带I/Q信号经过MXG上变频分别送入基站的两根接收天线。基站端对接收到的射频信号进行解调解码，并以RS232C的串行通信方式将反馈结果(ACK/NACK指令)传回至PXB，PXB根据ACK/NACK指令实时调整RV因子重
4结论
结果表明，系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见，结果显示直观可信。同时，该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下，仅仅通过软件配置即可实现1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，从而实现基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪 N5106A PXB配合信号发生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整体解决方案;如果测试系统已有专用信道仿真器，则可使用安捷伦信号发生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成*终测试。
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