安立知(Anritsu)为其 VectorStar 向量网络分析仪(VNA)，推出通用夹具提取(Universal Fixture Extraction, UFX) 选项，提供讯号完整性及 on-wafer 工程师更广泛的 on-wafer 及夹具校准选择，即使是在不具备全套校准标准时亦能使用。 专为满足 4G 及新兴 5G 系统、以及回程网络及数据中心之高频、高数据速率需求相关的设计挑战，UFX具备独特的分析工具，使工程师可以更准确、更有效地进行评估设计。
该VNA解决方案经由强化测试夹具去嵌入来强化模型精度，进而提升**产能，因此可加速上市时程。 同时，亦提供工程师开发具备竞争优势的高速数据吞吐量产品之能力。
为协助分析在测试夹具中的隔离缺陷，UFX 亦内含定序剥离(Sequential Peeling)功能。 讯号完整性工程师可根据相位函数匹配，在夹具的某个部分(例如常见的传输部分)产生.sNp 档。 该功能提供了更详细的夹具信息，进而可以更轻松地改良测试夹具设计。
UFX 进一步扩展了 VectorStar的功能，以进行 on-wafer 组件特性描述，以及高速数据传输的测量。 该公司 VNA 产品线VectorStar 采用获得**的 NLTL 技术，能提供单一仪器 70 kHz 到 145 GHz 的*广覆盖率。 该系列 提供研发工程师所需的效能水平，以准确且可靠地建模高频组件，并验证*先进的设计，同时可在确保精度的情况下，达到*高处理能力。
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