全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，泰克公司**设计工程师Kan Tan与泰克**工程师John Pickerd共同撰写的《防止S参数级联时失真的插值程序》(Interpolation Procedure For Cascading S-Parameters ToPrevent Aliasing)一文被“2013 IEEE 国际电子测量与仪器学术会议（ICEMI2013）”录用，同时这两位技术专家将在8月16-19日于哈尔滨举办的“ICEMI2013”上发表演讲，并通过泰克的串行数据链路分析（SDLA）工具及设备为现场观众演示这种“通过对S参数再采样来防止S参数级联过程中产生的失真”的具体方法。
S参数是为了对射频元器件的线性特性进行分析和建模而开发的一种方法。在把多个独立的器件级联起来做成一个比较复杂的系统时，S参数在分析、建模和设计的过程中起着重要的作用。在高速串行数据链路系统中，一个复杂的系统可进行模拟和验证的。泰克SDLA可视化仪应用在测量电路反嵌、模拟电路嵌入和接收机均衡等领域，可为计算机、通信和内存总线提供完整的仿真和测量环境。
IEEE国际电子测量与仪器学术会议(ICEMI)是两年一度的学术盛会，从1992年至今已成功举办过十届，为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及**技术的交流搭建了一个有效的平台。每一届ICEMI会议都会向全球从事测量与仪器仪表研究的专业人士征稿，邀请他们分享其*新的研究成果。欲报名参加ICEMI2013，请点击www.icemi.cn进行注册。
“本次《防止S参数级联时失真的插值程序》一文能够被ICEMI录用，充分体现了ICEMI对泰克技术专家一直致力于推动测试测量行业**的肯定。泰克将继续秉承多年来的**传统，提供更完善的技术和应用，同时加强与各方的合作，积极推进行业的长期发展。”泰克亚太区市场总监王中元 (Felix Wong)表示。
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