新的USB Type-C MOI，加上是德科技状态档等测试套件，可与Keysight M937xA PXIe多埠向量网路分析仪(VNA)搭配运作，以便为工程师提供USB Type-C相容性测试解决方案。另外，该实作方法也针对时域和频域量测提供按部就班的完整指引，以便简化相容性设定和测试。
随着使用者的频宽需求不断升高，高速数位标准也持续演进，以支援更高的资料速率。相较于目前的5Gbps USB 3.0规格，10Gbps USB 3.1规格可提供两倍以上的实际资料速率。然而，资料速率的快速提高，使得工程师面临更严格的实体层测试要求，以确保装置的互通性。高速数位缆线组件带来的量测挑战之一就是多埠量测。
Keysight M937xA PXIe多埠VNA具有全N埠校验和固有的频域量测功能，可实现真正的多埠量测。针对USB Type-C缆线组件测试，工程师可配置M937xA，以便支援12埠量测和300kHz至15GHz的频率，进而产生S12P touchstone档案，*后使用USB-IF相容性测试工具来进行分析。藉由使用M937xA VNA的12埠配置来产生S12P档案，频域量测时间可大幅缩短至仅仅20秒。
Keysight M937xA向量网路分析仪是全球速度*快的PXI VNA，在单一PXI插槽中配备了全双埠VNA，并支援300kHz至26.5GHz的多埠量测。Keysight M937xA PXIe VNA采用和是德科技可信赖的PNA和ENA VNA相同的量测科学，可提供媲美机箱式VNA的量测准确度、大于114dB的动态范围、低于0.003dB的轨迹杂讯和0.005dB/degree的稳定度。为满足未来的多埠量测需求，PXIe VNA*多可将单一机箱的VNA模组数扩充为16个，以支援*多32埠的完全修正多埠量测。
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