目前消费者在使用智能型手机上，相当注重价格是否合理、菜单现够不够好，但这两者往往有很大的冲突，也让测试的要求变得更高，测试设备不但得符合测试表现的需求，往往还要能配合生产应用将成本压低。 有鉴于此，爱德万测试(Advantest)将旗下V93000测试设备进行各种机台性能的扩充，顺利实现多任务同测，以实现机台成本降低的效益。
爱德万测试机电整合事业处/新产品事业处副总经理苏勇鸿表示，半导体制程的精进，让芯片可以在同样面积内摆放更多晶体管，并能将各种电路，包括模拟、数字、内存组件，整合到一颗SoC当中。 过去这些电路往往是分成各种不同的IC，但高度整合的设计才能满足物联网应用的需求。
因应SoC的发展趋势，在测试方面，*好的做法是用同一台设备进行测试。 苏勇鸿解释，爱德万测试早期的机台是分开来的，特定芯片必须以对应的测试设备来进行测试。 但在SoC的时代，单一功能的测试机台不易满足客户需求，且以多种机台进行测试，还可能发生某些机台使用率低，其他机台却不够用的状况。 这些问题均促使测试机台*终演化成目前的共通平台，也就是主机共享，部分测试模块也可以共享，但芯片测试者必须根据需求，使用不同的模块进行扩充(Reconfiguration)。
苏勇鸿举例，虽然RF测试是很常见的需求，但不是每一款IC都需要进行RF测试。 在遇到这种状况时，用户仅须将机台上原本安装的RF模块替换成其他模块，便可执行新的测试项目，毋须添购新的机台。 模块式的测试系统除了节省机台成本外，工程师也不须要再适应新的软件程序环境。
爱德万测试日前也宣布其V93000测试系统已创下5,000套出货量的好成绩，具指针意义的第5,000套系统，将由芯片供货商IDT采用。 *新安装的系统配备了新款DC Scale AVI64通用模拟接脚卡，其将有助于提升设备利用率，并使现行与次世代电源和模拟组件测试更有效率。
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