新产品除了可用于测试面向移动通信标准LTE、LTE-Advanced、LTE-A Pro的RF IC之外，还可用于测试支持LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、Bluetooth等多种通信标准的RF IC。另外还可支持今后开发日趋活跃的5G（第五代移动通信）技术。
据爱德万介绍，原来的RF IC测试尽管4个Site乃至8个Site同时进行测试，但每个Site只能测试一种无线通信标准。而新产品Wave Scale则可同时测试同一IC上的多种无线通信标准及电路。通过将Site内的同时测试与多Site测试并用，在测试配备有复合通信标准RF电路的IC时，便可大幅降低成本。
在新产品中，Wave Scale RF模块通过每块4个的子系统独立施加信号来进行测定，一次即可测试支持LTE、GPS、Bluetooth、WLAN等不同通信标准的IC。各子系统中的8个独立端口一起产生RF信号，可发挥与4台计测器同等的作用。子系统包含信号收发在内可*大完成8个Site的测式，因此每模块的*大Site数达到32。另外，测试频率凭借32个端口*高覆盖至6GHz。另外还提供200MHz带宽，以及环回、嵌入式校准等多种功能。
另一模块Wave Scale MX则具备每块32个完全独立的测定部，各探针带有参数测定单元。可实现高精度DC测定，*适于模拟IQ基带、高速D-A转换器及高速A-D转换器的测试用途。另外还具备16bit AC资源，因此可达到与各种无线通信标准*相配的测试性能。凭借300MHz的带宽，还可支持信道聚合等*新调制标准。此外，在凭借灵活性高的IO矩阵简化测试载板的同时，提高了多Site测试能力，可高效使用测试探针。校准时无需复杂的测定器，利用IQ校准板卡即可完成。
Wave Scale RF模块和Wave Scale MX模块可用序列器同时控制，能够同时实施各自独立的测试。首台Wave Scale已设置在中国的无厂企业中，主要用于测试支持LTE Category 6的*新IC，以及开发支持LTE-Advanced Category 10及Category 16的IC。预定2016年7～9月**供货。（记者：小岛 郁太郎）
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