摘要：文章以ARM微处理器为核心，采用直接频率合成技术，设计了一种低频高精度的幅频特性测试仪。系统以直接数字频率合成器AD9851作为扫频信号幅频特性；直接数字频率合成；真有效值；模／数转换
0 引言
电子测量中，我们经常会遇到对扫频范围：10Hz～100kHz；幅值范围：200mV～2V，连续可变；频率间隔：键盘任意设定，实现0～N线形增长；测量精度：小于1％；显示模块：3．2英寸TFT液晶。
3．2 测量结果及分析
系统设计完成进行测试，主要针对系统的频率及电压指标的测量，并计算各项指标的相对误差。
3．2．1 DDS输出信号精度测试
由于AD9851输出频率和幅度均程控可调，根据系统要求，只需测试AD9851输出峰峰值为3V左右，频率范围为10Hz～100kHz的正弦波信号的误差。表1给出了使用标准数字示波器的测量结果。从表1中可以看出，测频误差为0，DDS输出达到扫频信号源的精度要求，但在实际操作中，AD9851可输出*高频率可达72MHZ，并且无明显失真。
3．2．2 A／D电压误差测试
A／D电压误差测试使用数字万用表作为标准，表2记录了电压测试结果。从表2中可以看出，系统AD电压测量相对于万用表测量值*大误差为0．6％，满足系统1％以内的误差要求。
3．2．3 真有效值准确度测试
利用函数信号发生器输入频率为50Hz，有效值为20mV～2．5V的正弦波信号，然后利用示波器在输出端测量经其转换后的支流电平，可以测量出AD637准确度，其测量结果如表3所示。从表3中可以看出本设计电路的真有效值转换电路误差不超过0．06％，满足题目要求。
3．2．4 AD637频率特性测试
测量AD637频率特性，是为了测试其是否对被测网络有影响。用函数信号发生器输入有效值为2V、频率为10Hz～10MHz的正弦波信号，然后利用示波器在输出端测量经其转换后的支流电平，测量结果如表4所示。
4 结论
本文设计了基于ARM的数字控制低频幅频特性测试仪系统，本系统体积较小，选用ARM核心平台是STM32，无需外部扩展EPROM和RAM。另外，由于使用了DDS集成电路产生的扫频信号，所以扫频信号的质量精度高，扫频范围较宽。经过测试，本系统稳定可靠，绘制的幅频特性图与理论一致。此外，软件的操作使用和图形数据的处理非常方便，整个仪器的使用也非常简单，是传统的模拟幅频特性测试仪无法相比的，因此在高校电子实验室有比较高的应用价值。
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