爱德万测试(Advantest)宣布推出TS9000太赫兹分析系统全新TDR量测仪，此套新仪器采短脉冲太赫兹波技术，可应用于半导体、印刷基板、电子零组件等的电路品质分析及其他量测领域。
电子元件一般采用TDR(时域反射)示波器来进行电路品质检测，但随着元件尺寸日益缩小、整合度要求日渐提高，要精准判断出电路故障位置，TDR量测仪必须具备极强大的空间精准度，这项功能已越来越重要。现今市场上的量测仪器因为解析度有其限制，以致短脉冲上升时间无法进一步压缩，衍生现行分析技术不足以应付高度整合元件需求的风险。爱德万测试太赫兹分析技术运用短脉冲太赫兹波，进行复杂电路分析，上述问题将能迎刃而解，同时满足超高解析度量测需求。
TS9000 TDR量测仪采用爱德万测试TDT/TDR量测技术，以短脉冲讯号处理，精准判断并绘制电路瑕疵，其电路分析功能可达小于5μm的超高空间精准度，*大量测范围达300mm，包含矽穿孔(Through-Silicon Via)与中介层(Interposer)中的内部电路在内。
此外，还可选用TDR/TDT CAD资料连结功能，将找到的电路错误位置加以绘制并显示在目标元件的 CAD资料上，让错误原因一目了然，轻松掌握。TS9000 TDR量测仪提供三种TDR/TDT探针，一如专为独有接触需求所量身设计，三种探针各有不同解析度与量测距离设定。
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