是德科技(Keysight Technologies)日前宣布发表新的实作方法(MOI)指南，以协助工程师根据USB Type-C规格1.1版和USB Type-C相符性测试规格(CTS)1.0版，进行缆线组件相符性测试。新的USB Type-C MOI，加上该公司状态档等测试套件，可与Keysight M937xA PXIe多埠向量网路分析仪(VNA)搭配运作，以便为工程师提供USB Type-C相符性测试解决方案。另外，该实作方法也针对时域和频域量测提供按部就班的完整指引，以便简化相符性设定和测试。
随着使用者的频宽需求不断升高，高速数位标准也持续演进，以支援更高的资料速率。相较于目前的5Gbit/s USB 3.0规格，10Gbit/s USB 3.1规格可提供两倍以上的实际资料速率。然而，资料速率的快速提高，使得工程师面临更严格的实体层测试要求，以确保装置的互通性。高速数位缆线组件带来的量测挑战之一就是多埠量测。
Keysight M937xA PXIe多埠VNA具有全N埠校验和固有的频域量测功能，可实现真正的多埠量测。针对USB Type-C缆线组件测试，工程师可配置M937xA，以便支援12埠量测和300kHz至15GHz的频率，进而产生S12P touchstone档案，*后使用USB-IF相符性测试工具来进行分析。藉由使用M937xA VNA的12埠配置来产生S12P档案，频域量测时间可缩短至仅仅20秒。
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