阻抗分析仪 - 上海伊测电子科技有限公司

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	麦创阻抗分析仪MCR-9000型	MCR-9000系列是一款高精度阻抗分析仪，直流10Hz-30MHz频率，10mV-2Vrms（*小分辨率1mV）测试信号，适用于交流信号的LCR和DCR测试。
	同惠TH2853 - 500 射频LCR测试仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2853 - 350 射频LCR测试仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2853 - 200 射频LCR测试仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2853 - 100 射频LCR测试仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2853 - 050 射频LCR测试仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2852 - 050 射频阻抗分析仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2852 - 100 射频阻抗分析仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2852 - 200 射频阻抗分析仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2852 - 350 射频阻抗分析仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2852 - 500 射频阻抗分析仪	TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。
	同惠TH2848-05 精密阻抗分析仪	TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前国际先进的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪，*性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。 TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz，标配了压电导纳圆、介电常数测试功能，让阻抗分析功能得以进一步提升。得益于采用了10.1吋、分辨率达1280800的电容式触摸屏，TH2848系列精密阻抗分析仪采用了四参数显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示，避免了频繁切换的繁琐操作。
	同惠TH2848-10 精密阻抗分析仪	该系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前国际先进的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪，*性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。该系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz，标配了压电导纳圆、介电常数测试功能，让阻抗分析功能得以进一步提升。得益于采用了10.1吋、分辨率达1280800的电容式触摸屏，该系列精密阻抗分析仪采用了四参数显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示，避免了频繁切换的繁琐操作。
	常州同惠TH2851-130阻抗分析仪	常州同惠TH2851-130阻抗分析仪
	常州同惠TH2839精密阻抗分析仪	常州同惠TH2839精密阻抗分析仪 TH2839系列采用阻抗测量范围*宽的自动平衡电桥技术，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。

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