TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代 阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的*新高度。

TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪也彻底超越了国内外同类仪器3GHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪 器只能分析、无法单独测试的缺陷；中英文操作界面也解决了国外 仪器仅有英文界面的尴尬；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。 

快达0.4ms的测试速度、及高达60kΩ的阻抗测试范围可以满 足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质 因数(Q)电感器的测量。自动电长度测量和测试端外置的端口配置 方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将射频IV阻抗测试能力突 破3GHz达到5GHz。

TH2853 - 100性能特点

• 测试频率：1MHz-1GHz 
• 基本精度：±0.3%（典型值） 
• 高精度：采用射频IV法，在GHz能仍保持很高的测试精度 
• 高稳定性和一致性 
• 高速度：*快达0.4ms/点的测试速度 
• 高分辨：10.1英寸电容式触摸屏，分辨率1280*800 
• 点测、列表、扫描 
• 1601点多参数列表扫描功能 
•  四参数测量 
• 4通道图形扫描功能，每通道可显示4条曲线，通道和曲线有14   种分屏显示方式 
• 高兼容性：支持SCPI指令集 
• 测试头外置+自动电气长

TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪包括以下几种类型：

TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频LCR测试仪区别：

A.高精度 

宽带射频IV法电桥技术的应用，得以在1MHz-5GHz频率、100mΩ-60kΩ的阻抗范围内都能达到理想的10%测量精度，其中*高测试精度达±0.3%，远远高于网络分析仪的测试精度。

B.高稳定性和高一致性 

测试条件：速度5，输出功率-10dBm(141mV)，TH2852-1测试头被测件50Ω标准件。

C.高速度

D.10.1吋大屏，四种测量参数，让细节一览无遗 

10.1吋触摸屏、1280*800分辨率，Windows10系统、中英 文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口，带来的 是无以伦比的操作便捷性。 大屏幕带来更多的好处是，可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕，而且看起来绝 不拥挤和杂乱，同时可以显示四种测量参数，四种测量参数任意 可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数。

E.增强的列表扫描功能 

可以*多设置1601点的列表扫描，每个点可以单独设置测试 频率、测试电压、直流偏置等测试条件。

F.强大的分析图形界面 

*多可以4通道同时显示，每个通道 可以*多显示4条曲线。通道和曲线各有 十四种分屏显示方法。

       单通道四曲线显示             单通道单曲线

       双通道双曲线显示           四通道四曲线

G.分段扫描功能 

单通道四曲线显示 双通道双曲线显示 单通道单曲线 四通道四曲线 分段扫描是在一个扫描周期内，设置不同的频率分段进行扫描，扫描时可设置不同的电平及偏置，扫描结果直接图形显示， 用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。 如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率，通过分段扫描功能可在特定频率范围内扫描测量，无需扫描 不相关频率。

H.强大的光标分析能力 

TH2852 系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力，可以通过光标实现如下功能： 1. 读取测量结果的数值（作为**数值或者相对于参考点的相对值） 2. 3. 4. 查找曲线上的特定点（光标查找） 分析曲线测量结果，计算统计数据 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放 TH2852 系列可以在每条曲线上显示 10 个光标，包括了参考光标。 每个光标有一个激励值（坐标系 X 轴对应的数值）和响应值（坐标系 Y 轴对应的数值）。 光标查找功能允许搜索下列条件测量点： *大值、*小值 峰谷值： 峰值（极大值）、谷值（极小值）、光标左侧*近的峰谷值、光标右侧*近的峰谷值、多重峰谷值 目标值： 距离光标*近的目标值、光标左侧*近的目标值、光标右侧*近的目标值、多重目标值

I.强大的图形分析功能 

1） 曲线分选功能 可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断，常用于谐振曲线筛选如压电元件等谐振频率。

2） 等效电路分析 

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四 参数三种模型的阻抗器件，等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路 模型用于等效这些器件。 可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲 线进行对比，还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。 等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用。

3） 曲线轨迹对比 

曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量，所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用： 

a) 针对多种不同被测件 对比不同测量条件下的曲线轨迹 设置不同的频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值 

b) 针对同一个被测件 对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性 设置不同频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值

J.介电常数分析（选件） 

TH2852系列精密阻抗分析仪支持介质材料介电常数、介质损耗分析，需选购测试夹具及分析软件。

2.TH26089介质材料测试夹具 

TH26089电介质材料测试夹具是设计在TH2852系列上进行准确的介电常数及介质损耗测量的夹具。通过使用平行板方法 测量固态材料的介电常数，从而消除离散电容。

1）TH26089外形结构

2）基本参数

3.介电常数分析软件 

该软件为选件，开通后在TH2852系列界面直接选择对应的参数即可，分别可以单测、列表扫描、曲线扫描，下图为曲线扫描界面。

F. 磁导率分析

TH2852系列支持磁性材料磁导率测试，在主机的基础上，需选配测试夹具及磁导率分析软件，具体配置如下：

1.配置

2.测试夹具

1）TH26088外型结构

2）TH26088磁导率测试夹具

TH26088可**测量环形磁性材料的磁导率。由于该夹具的结构是环形线圈绕一圈（无漏磁），因此不需要绕环形线圈的导线，而且允许广泛的频率覆盖。 它配有一个小型和一个大型夹具，适应各种尺寸，是测量磁性材料的理想结构。

3）技术参数

4.磁导率分析软件选择开通磁导率分析软件之后，仪器便可以在单测、列表扫描、曲线扫描中直接选择磁导率参数，直接在界面显示测试结果。