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浅谈Boundary-Scan边界扫描技术
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。
发布时间：2022-08-20 09:30
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边界扫描测试的原理及应用
一、边界扫描测试的原理 边界扫描测试是一种可测试结构技术，它采用集成电路的内部外围所谓的“电子引脚”（边界）模拟传统的在线测试的物理引脚，对器件内部进行扫描测试。它是在芯片的I/O端上增加移位寄存器，把这些寄存器连接起来，加上时钟复位、测试方式选择以及扫描输入和输出端口，而形成边界扫描通道。IEEE 1149.1 标准规定了一个四线串行接口(第五条线是可选的)，该接口称作测试访问端口 (TAP)，
发布时间：2016-03-04 08:16
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JTAG/Boundary Scan tests
JTAG/BoundaryScanJTAG(JointTestActionGroup)isaninternationalstandardTestprotocol(IEEE1149.1compatible),mainlyusedforchipinte
发布时间：2014-11-18 11:07
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JTAG介绍及原理
JTAG介绍及原理随着电路技术进入超大规模集成（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）技术在电路系统中的应用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，常规的测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事
发布时间：2014-08-28 14:15
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什么是JTAG/边界扫描？
JTAG/边界扫描或许是***的测试程序，类似于电路中的在线测试，进行故障跟踪，设置数以千计的测试点---也可在多芯片情况下，并且只需四条导线。JTAG/边界扫描意味着如同“电路中的外围（在边界）测试”。除了核心逻辑和集成电路的接触点之外，一个电路还包含另外的逻辑。该测试点在电路的核心逻辑和物理执行次数之间被集成。这一典型的集成电路-架构和芯片的测试总线连接是引入JTAG/边界扫描测试的先决条件。
发布时间：2014-08-28 14:15
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JTAG/Boundary Scan integration in In-Circuit-Test
JTAG/BoundaryScanintegrationinIn-Circuit-Test(ICT)systemsIn-Circuit-Test(ICT)isthemostwidespreadtechnologyatpresentbecausetheprincipleallowsallelectricallydetectablefaultstobefound.Butitscapabilityisb
发布时间：2014-08-28 14:15
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JTAG/Boundary Scan
JTAG/BoundaryScanisprobablythemostingenioustestprocess,whichlikeICT,testswithinthecircuitanddetectsstructuralfaultlocationsbysettingthousandsoftestpoints,evenunderBGAs,-withonlyfourtestbuslines.Bounda
发布时间：2014-08-28 14:15
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BSDL Editor
TheBSDLEditorallowsyoutoviewandeditBSDLandcustomcelltypepackagefileswithinXJDeveloper.TheeditorshowsyouasummaryofinformationcontainedintheBSDLfile,includingtheIDCODE,TCKfrequency,boundaryscanregisterl
发布时间：2014-08-28 14:15
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