TH2852系列射频阻抗分析仪震撼发布

1️⃣ 测试频率：1MHz – 5GHz，能够适配 HF 到 C 波段范围内绝大多数射频工程应用场景。

2️⃣ 频率设置分辨率：1mHz，能够在极窄的频带内进行精细扫描，满足晶体谐振器、声表面波滤波器等对频率精度要求极高的测量需求。

对比传统电桥，射频IV法无需复杂平衡校准，直接采样实时计算，从根源规避高频寄生参数引发的相位漂移与杂散误差，**适配中高频、射频乃至微波频段精密测量。TH2852系列射频阻抗分析仪四项核心指标**超越国际同类产品，为射频测试提供高效精准的国产替代新选择。

（二）宽广的阻抗测量范围与高精度

1️⃣ 阻抗测量范围：120 mΩ ～ 60 kΩ，兼顾低阻抗功率器件与高阻抗材料特性分析。

2️⃣基本精度：±0.3%（典型值），确保了测试结果的**可信，满足了从研发验证到质量控制的高标准要求。

3️⃣ 测试速度：*快达 0.4 ms/点，可在毫秒级内完成单点测量，大幅提升产线效率。

（三）深度分析功能矩阵

TH2852系列射频阻抗分析仪内置多种**分析与选件功能，可满足不同应用场景的深入测试：

1️⃣ 曲线扫描功能：该功能将射频器件的复杂行为可视化，为深入分析和诊断提供*直接的依据。

TH2852系列拥有十分强大的扫频功能，能在1MHz-5GHz下进行曲线扫描。

2️⃣ 等效电路分析测试：复杂射频结构直接电磁场仿真算力大、耗时长，等效电路分析可将其抽象化为简化模型，精准复现端口参数，是高效系统仿真的核心基础。

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件，等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。

3️⃣ 介电常数分析（选件）‍：该功能揭示了材料与电场相互作用的全貌，是介质材料高频特性设计的基础。

TH2852系列支持介质材料介电常数、介质损耗分析，需选购测试夹具及分析软件。

4️⃣ 磁导率测量（选件）‍ ：该功能解锁了材料对磁场响应的窗口，是开发射频磁性材料和器件的关键。

TH2852系列支持磁性材料磁导率测试，在主机的基础上，需选配测试夹具及磁导率分析软件。

5️⃣ 史密 斯圆图功能：史密 斯圆图（Smith Chart）是射频 / 微波工程统一处理阻抗、导纳、反射系数的图解工具。

一张图就能完成：阻抗匹配、传输线计算、驻波比、反射损耗、负载变换、匹配网络设计。