DENSOKU电测曲面球面测厚仪 DS-110

涡流涂层测厚仪DS-110的特点

易于阅读的数字

测量值显示是数字的，易于阅读。

4 种标准和多达 70 种不同的膜厚测量

通过拨动开关，*多可以进行四种类型的薄膜厚度测量。
此外，通过更换制造商的检查线，可以进行 70 多种类型的膜厚测量。

测量弯曲、球形和管道内部

它还可以测量曲面和球面。
还可以测量管道和其他材料的内表面（φ12.7 mm以上）。

即时测量

开关打开后即可进行测量。 测量时间也小于1秒。

高稳定性（±1%）高精度

晶体振荡系统提供高稳定性（±1%）和高精度。

可进行**检查

由于它是无损的，因此可以进行**检查。

无需转换

它是一种直接读取方法，不需要转换。

存储多达 1000 个数据

1000 个数据可存储在一条检测线上

测量非金属上的金属涂层

它可以测量非金属上的金属涂层（例如塑料上的电镀）。

自1952年成立以来，我们DENSOKU通过广泛的薄膜厚度测量设备阵容，为日本表面处理行业做出了贡献，包括作为标准测量仪器的薄膜厚度计，这些测量仪器在通产省的JIS标准制定中作为标准测量仪器，并率先在行业中开发电解薄膜厚度计。我们的目标是建立一个能够为社会做出贡献的公司，并创造人类。我们不断努力提高自己的能力和人性，为员工创造幸福和公司发展。以更高的技术为目标，提供更上等的产品，为“客户满意度”服务。建立客户和业务合作伙伴信任的公司，并持续盈利。

DENSOKU/电测的产品分类：
  1、多点同步测量涡流膜厚计
  2、荧光X射线膜厚度计
  3、电解膜厚度计
  4、涡流膜厚度计
  5、电阻式膜厚计
  6、便携式薄膜厚度计

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线 
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度 
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3 
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式 
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准 

产品特点

• 高精度测量：采用高精度恒流源，确保测量精度可达±1%，分辨率高达0.001μm。
• 多层镀层分析：支持*多5层镀层的测量条件设定，包括多层镍镀层的电位差分析。
• 智能化操作：在微软视窗下作业，数据处理及机能性更加多样。软件具有电位图显示功能，可设定上下限值，超差时红色警示并伴有蜂鸣报警。
• 数据处理与管理：可对测量数据进行统计处理，包括平均值、标准差等，并可导出或打印数据，方便用户进行质量控制和报告生成。
• 非破坏式校准：具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪，确保测量精度的长期稳定。
• 适应性强：适用于多种金属基材（如铜、铝、钢等）及镀层（如金、银、镍、铬等），并能自动识别适用的电解液类型。

应用场景

技术参数

• 测量范围：0.006~300μm
• *小分解能：0.001μm
• 本体精度：±1%
• 测量单位：μm, mm, mil, MI
• 测量面积：
• A型测头：3.4mmΦ
• B型测头：2.5mmΦ
• C型测头：1.8mmΦ
• 电源：AC100V
• 本体尺寸：W265×D215×H138mm
• 重量：4.5kg