DENSOKU荧光X射线式膜厚计 COSMOS-3X ExWin执行

自1952年成立以来，我们DENSOKU通过广泛的薄膜厚度测量设备阵容，为日本表面处理行业做出了贡献，包括作为标准测量仪器的薄膜厚度计，这些测量仪器在通产省的JIS标准制定中作为标准测量仪器，并率先在行业中开发电解薄膜厚度计。我们的目标是建立一个能够为社会做出贡献的公司，并创造人类。我们不断努力提高自己的能力和人性，为员工创造幸福和公司发展。以更高的技术为目标，提供更上等的产品，为“客户满意度”服务。建立客户和业务合作伙伴信任的公司，并持续盈利。

DENSOKU/电测的产品分类：
  1、多点同步测量涡流膜厚计
  2、荧光X射线膜厚度计
  3、电解膜厚度计
  4、涡流膜厚度计
  5、电阻式膜厚计
  6、便携式薄膜厚度计

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线 
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度 
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3 
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式 
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准 

X射线荧光涂层测厚仪COSMOS-3X的特点

双过滤器

除了气动过滤器外，还使用了两种类型的机械过滤器，即 Co 和 Ni，

即使在具有相邻原子序数的 Cu 上 Ni 和 Zn 上 Cu 的基材和涂层的组合中也能实现**测量。

5 个内置准直器

标配 0.1、0.2、0.5、1.0 和 2.0 mm φ 5 种准直器。
此外，还提供 0.05 mm φ、0.05 mm φ× 0.5 mm φ准直器作为选项。

具有自诊断功能的维护

自动诊断功能，快速处理设备故障排除。
它还显示 X 射线管的使用时间和剩余寿命，以支持可维护性。

控制 ExWin

作由Windows电脑上的控制软件ExWin执行，作方便。 您可以使用电子表格软件轻松导入数据。

统计处理功能

您可以显示和打印各种统计数据和图表。

Be 窗口 X 射线管

现在可以使用窗户 X 射线管。 通过使用Be窗口X射线管，可以使用0.05mmφ等小型准直器进行测量，

并以良好的精度测量Ti和Cr等轻元素。

产品特点

• 高精度测量：采用高精度恒流源，确保测量精度可达±1%，分辨率高达0.001μm。
• 多层镀层分析：支持*多5层镀层的测量条件设定，包括多层镍镀层的电位差分析。
• 智能化操作：在微软视窗下作业，数据处理及机能性更加多样。软件具有电位图显示功能，可设定上下限值，超差时红色警示并伴有蜂鸣报警。
• 数据处理与管理：可对测量数据进行统计处理，包括平均值、标准差等，并可导出或打印数据，方便用户进行质量控制和报告生成。
• 非破坏式校准：具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪，确保测量精度的长期稳定。
• 适应性强：适用于多种金属基材（如铜、铝、钢等）及镀层（如金、银、镍、铬等），并能自动识别适用的电解液类型。

应用场景

技术参数

• 测量范围：0.006~300μm
• *小分解能：0.001μm
• 本体精度：±1%
• 测量单位：μm, mm, mil, MI
• 测量面积：
• A型测头：3.4mmΦ
• B型测头：2.5mmΦ
• C型测头：1.8mmΦ
• 电源：AC100V
• 本体尺寸：W265×D215×H138mm
• 重量：4.5kg