电测DENSOKU荧光镀膜测厚仪 EX-851自动测量

日本电测densoku是专注于电镀、喷涂膜厚测量的综合性专业制造商。其产品以电解式测厚仪为核心，广泛应用于电子线材、汽车、钢铁等行业。

自1952年成立以来，我们DENSOKU通过广泛的薄膜厚度测量设备阵容，为日本表面处理行业做出了贡献，包括作为标准测量仪器的薄膜厚度计，这些测量仪器在通产省的JIS标准制定中作为标准测量仪器，并率先在行业中开发电解薄膜厚度计。我们的目标是建立一个能够为社会做出贡献的公司，并创造人类。我们不断努力提高自己的能力和人性，为员工创造幸福和公司发展。以更高的技术为目标，提供更上等的产品，为“客户满意度”服务。建立客户和业务合作伙伴信任的公司，并持续盈利。

DENSOKU/电测的产品分类：
  1、多点同步测量涡流膜厚计
  2、荧光X射线膜厚度计
  3、电解膜厚度计
  4、涡流膜厚度计
  5、电阻式膜厚计
  6、便携式薄膜厚度计

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线 
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度 
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3 
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式 
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准 

产品特点

• 高精度测量：采用高精度恒流源，确保测量精度可达±1%，分辨率高达0.001μm。
• 多层镀层分析：支持*多5层镀层的测量条件设定，包括多层镍镀层的电位差分析。
• 智能化操作：在微软视窗下作业，数据处理及机能性更加多样。软件具有电位图显示功能，可设定上下限值，超差时红色警示并伴有蜂鸣报警。
• 数据处理与管理：可对测量数据进行统计处理，包括平均值、标准差等，并可导出或打印数据，方便用户进行质量控制和报告生成。
• 非破坏式校准：具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪，确保测量精度的长期稳定。
• 适应性强：适用于多种金属基材（如铜、铝、钢等）及镀层（如金、银、镍、铬等），并能自动识别适用的电解液类型。

应用场景

技术参数

• 测量范围：0.006~300μm
• *小分解能：0.001μm
• 本体精度：±1%
• 测量单位：μm, mm, mil, MI
• 测量面积：
• A型测头：3.4mmΦ
• B型测头：2.5mmΦ
• C型测头：1.8mmΦ
• 电源：AC100V
• 本体尺寸：W265×D215×H138mm
• 重量：4.5kg

X射线荧光涂层测厚仪EX-851的特点

有两种模式可供选择，
可根据应用进行平稳的测量作。

多测量和多校准曲线

注册坐标以
自动测量从激光点照射位置开始的多个点。 可以使用不同的校准曲线测量多个点。

膜厚测量期间的光谱显示

膜厚测量时的光谱显示 多通道光谱分析 快速处理，对被测物体进行简单的光谱显示（处理速度2~3秒）

显示测量单元监视器屏幕

将 X 射线照射部分导入 Windows 屏幕并显示 X 射线照射部分。 准直器
实现了改变尺寸的放大倍率变化功能。

自动测量模式

当测量对象设置在激光笔照射位置并关闭门时，载物台自动移动并
自动进行测量。

手动测量模式

测量对象设置在激光笔照射位置，当门关闭时，载物台自动移动，
甚至聚焦在它上面。

配备自动对焦功能

采用激光自动对焦。
自动对焦提高工作速度。

测量台移动精度 1μm

测量台移动的精度提高（是当前产品的50倍），通过坐标设置的
连续测量和移动到指定位置，实现了**的载物台移动。

双过滤器

除了气动过滤器外，使用机械过滤器（双过滤器）还可以让您在条件下进行测量，以确保始终保持精度。

完整的报告创建功能

通过采用MS-Window软件，可以轻松捕获测量屏幕，并增强报告创建功能。 多任务处理功能允许在测量时进行其他处理，包括报告。

5 个内置准直器

准直器的*小尺寸为 0.1 φ mm，可以测量极小的零件。 标准：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
此外，还可以选择特殊规格。

自我诊断和 X 射线管维护功能

自诊断功能可立即响应设备故障排除。 此外，X射线管还增加了显示使用时间和耐久性时间的功能，以支持维护**。

EX-851	测量台尺寸（毫米）		200 x 200
	移动音量	X（mm）	200
		Y（mm）	200
		Z（mm）	90
	测量物体高度（毫米）		90
	尺寸（毫米）		740（W） × 530（D） × 660（H） *不包括突出物
	体重（公斤）		85
	样品载荷（公斤）		1
计算机	尺寸（毫米）		车身 182（西）×383（D） × 372（H）
			显示器 412（W） x 415（D） × 432（H）
	体重（公斤）		Body 6.8 / Monitor 2.8
印刷厂	体重（公斤）		3.4
电源	AC100V±10V

X射线源	油浸式小型微焦点X射线管
	目标：钨
	管电压 50kV
	管电流变量
照射方法	上述垂直辐照方法
探测器	比例计数管
准直器	5种类型（自动切换）
	0.1， 0.2， 0.5， 1.0， 2.0Φmm
	（可选）
	: 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5,Φ
	： 0.05×0.5,0.5×0.05， 0.1， 0.2， 0.5gΦ
样本观察	（CCD彩色相机（自动对焦）
计算机	PC/AT兼容
	17英寸彩色显示器
印刷厂	喷墨打印机
测量对象	原子序数22（Ti）~82（Pb）
	原子序数21及以下可以通过吸收法测量
滤波器	两种类型（Co，Ni）自动切换
可测量范围	原子序数22~24：0.02~约20微米
	原子序数25~40：0.01~约30微米
	原子序数41~51：0.02~约70微米
	原子序数52~82：0.05~约10微米
校准曲线	自动校准曲线创建函数
	多点校准曲线
校正函数	基础校正
应用	单层电镀测量
	两层电镀测量
	三层电镀测量
	同时测定合金薄膜厚度组分比
	无电镍测量
测量功能	自动测量
	输出格式设置
	光谱测量
	两点之间的距离测量
自动表函数	自动对焦
	测量位置指定（X-Y-Z）
	原点校正函数
	测量位置确认函数
	自动校准
数据处理能力	统计显示：均值、标准差、*大值、*小值、范围、CP、cpk
	直方图
	配置文件显示
	测量数据的3D显示
	X-R控制图
**特征	X射线电源键开关
	失效**功能
其他特色	舞台坐标显示
	设备维护与维护