电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪 EX-851
产品简介
日本电测densoku是专注于电镀、喷涂膜厚测量的综合性专业制造商。其产品以电解式测厚仪为核心,广泛应用于电子线材、汽车、钢铁等行业。
产品详细信息
日本电测densoku(株式会社电测)成立于1952年,总部位于日本东京都品川区,
是专注于电镀、喷涂膜厚测量的综合性专业制造商。
其产品以电解式测厚仪为核心,广泛应用于电子线材、汽车、钢铁等行业。
主营产品
电解式测厚仪
采用电解原理测量金属表面涂层厚度,具有高灵敏度、轻量化设计,适用于电子元件、汽车部件等精密测量。
荧光X射线胶片测厚仪
通过X射线检测胶片上的涂层厚度,适用于电子元器件的离线检测。
涡流膜厚计/电阻式膜厚计
采用涡流或电阻原理测量非导电涂层厚度,支持快速检测。
便携式膜厚仪
适用于现场快速检测,覆盖多种涂层类型,如油漆、塑料等。
日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线
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日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线
X射线荧光涂层测厚仪EX-851的特点
有两种模式可供选择,
可根据应用进行平稳的测量作。
多测量和多校准曲线
注册坐标以
自动测量从激光点照射位置开始的多个点。 可以使用不同的校准曲线测量多个点。
膜厚测量期间的光谱显示
膜厚测量时的光谱显示 多通道光谱分析 快速处理,对被测物体进行简单的光谱显示(处理速度2~3秒)
显示测量单元监视器屏幕
将 X 射线照射部分导入 Windows 屏幕并显示 X 射线照射部分。 准直器
实现了改变尺寸的放大倍率变化功能。
自动测量模式
当测量对象设置在激光笔照射位置并关闭门时,载物台自动移动并
自动进行测量。
手动测量模式
测量对象设置在激光笔照射位置,当门关闭时,载物台自动移动,
甚至聚焦在它上面。
配备自动对焦功能
采用激光自动对焦。
自动对焦提高工作速度。
测量台移动精度 1μm
测量台移动的精度提高(是当前产品的50倍),通过坐标设置的
连续测量和移动到指定位置,实现了**的载物台移动。
双过滤器
除了气动过滤器外,使用机械过滤器(双过滤器)还可以让您在条件下进行测量,以确保始终保持精度。
完整的报告创建功能
通过采用MS-Window软件,可以轻松捕获测量屏幕,并增强报告创建功能。 多任务处理功能允许在测量时进行其他处理,包括报告。
5 个内置准直器
准直器的*小尺寸为 0.1 φ mm,可以测量极小的零件。 标准:0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
此外,还可以选择特殊规格。
自我诊断和 X 射线管维护功能
自诊断功能可立即响应设备故障排除。 此外,X射线管还增加了显示使用时间和耐久性时间的功能,以支持维护**。
| EX-851 | 测量台尺寸(毫米) | 200 x 200 | |
|---|---|---|---|
| 移动音量 | X(mm) | 200 | |
| Y(mm) | 200 | ||
| Z(mm) | 90 | ||
| 测量物体高度(毫米) | 90 | ||
| 尺寸(毫米) | 740(W) × 530(D) × 660(H) *不包括突出物 | ||
| 体重(公斤) | 85 | ||
| 样品载荷(公斤) | 1 | ||
| 计算机 | 尺寸(毫米) | 车身 182(西)×383(D) × 372(H) | |
| 显示器 412(W) x 415(D) × 432(H) | |||
| 体重(公斤) | Body 6.8 / Monitor 2.8 | ||
| 印刷厂 | 体重(公斤) | 3.4 | |
| 电源 | AC100V±10V | ||
| X射线源 | 油浸式小型微焦点X射线管 |
|---|---|
| 目标:钨 | |
| 管电压 50kV | |
| 管电流变量 | |
| 照射方法 | 上述垂直辐照方法 |
| 探测器 | 比例计数管 |
| 准直器 | 5种类型(自动切换) |
| 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0Φmm | |
| (可选) | |
| : 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5,Φ | |
| : 0.05×0.5,0.5×0.05, 0.1, 0.2, 0.5gΦ | |
| 样本观察 | (CCD彩色相机(自动对焦) |
| 计算机 | PC/AT兼容 |
| 17英寸彩色显示器 | |
| 印刷厂 | 喷墨打印机 |
| 测量对象 | 原子序数22(Ti)~82(Pb) |
| 原子序数21及以下可以通过吸收法测量 | |
| 滤波器 | 两种类型(Co,Ni)自动切换 |
| 可测量范围 | 原子序数22~24:0.02~约20微米 |
| 原子序数25~40:0.01~约30微米 | |
| 原子序数41~51:0.02~约70微米 | |
| 原子序数52~82:0.05~约10微米 | |
| 校准曲线 | 自动校准曲线创建函数 |
| 多点校准曲线 | |
| 校正函数 | 基础校正 |
| 应用 | 单层电镀测量 |
| 两层电镀测量 | |
| 三层电镀测量 | |
| 同时测定合金薄膜厚度组分比 | |
| 无电镍测量 | |
| 测量功能 | 自动测量 |
| 输出格式设置 | |
| 光谱测量 | |
| 两点之间的距离测量 | |
| 自动表函数 | 自动对焦 |
| 测量位置指定(X-Y-Z) | |
| 原点校正函数 | |
| 测量位置确认函数 | |
| 自动校准 | |
| 数据处理能力 | 统计显示:均值、标准差、*大值、*小值、范围、CP、cpk |
| 直方图 | |
| 配置文件显示 | |
| 测量数据的3D显示 | |
| X-R控制图 | |
| **特征 | X射线电源键开关 |
| 失效**功能 | |
| 其他特色 | 舞台坐标显示 |
| 设备维护与维护 |
公安机关备案号:


