江苏苏州 日本进口晶圆在线测厚系统 GS-300
产品简介
·可整合至300mm设备前端模组(EFEM)单元预备端口 ·实现嵌入晶片中的布线图案的对准(IR相机) ·可对应半导体制造的高生产量要求 ·可支持预对准校正功能 ·紧凑模式(W475mm×D555mm)
产品详细信息
测定事例
·硅通孔技术(TSV)嵌入图案晶圆研磨后的厚度
·12寸(300mm)晶圆厚度
技术参数
测定案例
贴合晶圆(Si/复合/支撑基板)
Si膜厚分布(约25μm)
复合膜厚分布(约25μm)
公安机关备案号:


