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	TH2640A 耐冲击精密电容测试仪
	HPS2662A四探针电阻率测试仪	HPS2662A四探针电阻率测试仪
	HPS2662四探针电阻率测试仪	HPS2662四探针电阻率测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。
	半导体参数分析仪	TH521-35-600C半导体参数分析仪是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥*大价值。它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括IV参数（击穿电压和导通电阻）、三端FET电容、栅极电荷和功率损耗。用于电路设计的TH521系列半导体参数分析仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。
	半导体参数分析仪	TH521-35-1800半导体参数分析仪是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥*大价值。它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括IV参数（击穿电压和导通电阻）、三端FET电容、栅极电荷和功率损耗。用于电路设计的TH521系列半导体参数分析仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。
	半导体参数分析仪	TH521系列半导体参数分析仪是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥*大价值。它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括IV参数（击穿电压和导通电阻）、三端FET电容、栅极电荷和功率损耗。用于电路设计的TH521系列半导体参数分析仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。
	AS2855D高压介质损耗介电常数测试系统	AS2855-D型自动高压介质损耗介电常数测试系统是专为绝缘材料（如云母带，有机硅，聚丙烯等高分子材料，变压器油，电容器油，电缆油等绝缘油）进行高压介质损耗介电常数的测量，可以采用自动测试模式，在不同的电压下电容量和介损值的变化曲线，突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机、和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；电源采用大功率开关电源，输出45Hz和55Hz纯正弦波，自动加压，自动滤除50Hz干扰。符合GB5654,GBT1409,GBT1693等国标。
	大功率IGBT静态参数测试仪SC5016	大功率IGBT静态参数测试仪SC5016
	SC2020晶体管参数测试系统	SC2020晶体管参数测试系统 SC2020晶体管参数测试系统是我司自主研发的半导体分立器件电学参数测试的专用设备，主要用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门IQC进行来料检验，研发部门进行失效分析、选型配对、可靠性分析测试。
	半导体分立器件测试系统	SC2010半导体分立器件测试系统是一款非常具有代表性的新型半导体晶体管参数测试图示系统，是美国STI5000系列测试机的国产替代机型，本系统可自动生成功率器件的 I-V 曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析， IQC 来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用 ATE 系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是 6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入 EXCEL 等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的半导体测试设备
	常州同惠TH8601线材测试仪	常州同惠TH8601线材测试仪：四端线材综合测试仪是专用于各种线缆，线束和排线品质及连接可靠性检验的多功能，自动化的线材综合参数测试系统。该系统提供可编程的恒流恒压源以及高压源，测试项目涵盖了导通，被动元件（电感，电阻，电容，二极管），交直流耐压，绝缘电阻各种高低压参数。
	常州同惠TH2829C自动元件分析仪	常州同惠TH2829A自动元件分析仪 TH2829系列自动元件分析仪应用高速处理器和新的软件系统，使其拥有更高的测试速度、更**的分析功能和友好的人机交互体验。精心设计的测量电路和优化的算法，进一步提升了低D值电容和高Q值电感的测试稳定性。
	常州同惠TH2829A自动元件分析仪	常州同惠TH2829A自动元件分析仪 TH2829系列自动元件分析仪应用高速处理器和新的软件系统，使其拥有更高的测试速度、更**的分析功能和友好的人机交互体验。精心设计的测量电路和优化的算法，进一步提升了低D值电容和高Q值电感的测试稳定性。
	常州同惠TH2511A直流低电阻测试仪	常州同惠TH2511A直流低电阻测试仪 TH2511A型直流低电阻测试仪具有简便的比较功能，可广泛用于测量各种线圈的电阻，电动机，变压器绕组的电阻，电缆的导线电阻，开关，插头，接触电阻和金属铆接电阻等。
	常州同惠TH2840A精密LCR数字电桥	常州同惠TH2840A精密LCR数字电桥
	常州同惠TH2851-130阻抗分析仪	常州同惠TH2851-130阻抗分析仪
	常州同惠TH2839精密阻抗分析仪	常州同惠TH2839精密阻抗分析仪 TH2839系列采用阻抗测量范围*宽的自动平衡电桥技术，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。
	HPS2663精密四探针测试仪	HPS2663精密四探针测试仪可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。
	HPS2535精密热敏电阻测试仪	HPS2535精密热敏电阻测试仪是海尔帕科技拥有国家发明**的高精度热敏电阻测试仪，采用高性能ARM微处理器、多种测试模式和独特的自动归零电路，很好地消除了热电电势对被测元件接触的影响而引起的潜在误差；温度补偿和温度转换功能使得仪器可在常温下测量热敏电阻值，免除环境温度对测试工作的影响； HPS2535拥有超高速的测试速度以及丰富的通讯接口，广泛应用于PTC热敏电阻、NTC热敏电阻等的分散测试和生产线批量生产中，轻松组建自动化测试系统。
	HPS2540精密压敏电阻测试仪	HPS2540精密压敏电阻测试仪又称为GDT测试仪，是海尔帕科技采用高频高压技术全新推出的一款仪器，基于高性能微处理器和高密度SMD贴装工艺，产生高精度恒流、恒压源，可以快速准确地测量压敏电阻的压敏电压UN、泄露电流IL、压比Kr以及非线性系数α等各项指标。

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