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连接器插入损耗及其确定
插入损耗ρ,定义为:ρ=10*log ( Po/Pi ),单位dB Po----输出功率(Power output)
Pi----输入功率(Power input)
产生插入损耗的三种主要原因: 反射损耗,介质损耗和导体损耗。 反射损耗指那些因为驻波而产生连接器的损耗。介质损耗指能量在介质材料(Teflon, rexolite,delrin等)中传播的损耗。导体损耗指能量在连接器导体表面传导而造成的损耗,它与材料选择和电镀的使用相关。通常,连接器插入损耗从几个百分之一dB到几个十分之一dB。同VSWR的指定方法一样,可以指定为“平坦直线限定”或者指定为频率的函数。同VSWR的例子一样,对于配接柔性电缆的直型BNC插头,在*大3Ghz测试条件下,BNC可以指定为*大0.2 dB。
对于SMA,在6 Ghz测试条件下,可以指定插入损耗ρ=0.06*(f--GHz)dB。例如,在4Ghz时,插入损耗*大为0.06*2或者0.12 dB。 虽然连接器可以在很宽的频率范围内使用,但通常仅仅在指定的特定频率下测试,因为对非常小的损耗进行**测量是一个**的, 耗时的过程。在MILPRF-39012中定义了这个测试过程。
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