三星手机测试架
产品简介
**方法保证连接定可靠;采用进口探针和防静电材料制作;探针可以更换,维修方便;*小测试间距可达0.5mm;应用:可用于手机的电源、CPU、帧频、语音等的BGA/QFN IC的功能测试、程序烧录。
产品详细信息
**方法保证连接定可靠;采用进口探针和防静电材料制作;探针可以更换,维修方便;*小测试间距可达0.5mm;应用:可用于手机的电源、CPU、帧频、语音等的BGA/QFN IC的功能测试、程序烧录。
**方法保证连接定可靠;采用进口探针和防静电材料制作;探针可以更换,维修方便;*小测试间距可达0.5mm;应用:可用于手机的电源、CPU、帧频、语音等的BGA/QFN IC的功能测试、程序烧录。