EMC诊断分析系统

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深圳市华瑞高电子技术有限公司
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三维多功能扫描仪 | IC EMC测试设备 | 电磁干扰扫描系统 | 抗干扰开发系统

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	电磁兼容诊断系统 RSE321	电子产品中的电场，磁场和热分布的设计，诊断和调试是极其重要的几个环节，它们将直接影响电子产品的质量和可靠性。而这些性能的调试一直以来由于无法＂可视观察＂而很困难进行。工程师往往只能够凭工作经验进行反复试验。电磁兼容诊断系统积聚了现代电子产品的工程调试经验，运用了先进的高灵敏度高精度近场传感器技术，结合了计算机和频谱分析的成熟手段，电磁兼容诊断系统是给工程师以方便实用的工具。
	IC电磁发射测试系统 IEC61967-6	EC61967-6磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射所组成的IC电磁发射测试系统。IC电磁发射测试系统是芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连，因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取，由电磁感应定律，探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。
	抗干扰开发系统 E1	大部分电子产品需要通过电快速瞬变脉冲群（Burst）和静电放电（ESD）等项目的标准测试。测试时，把干扰脉冲从设备外部耦合到内部，同时监视设备的工作状态。如果设备没有通过这些标准的测试，测试本身几乎不能提供任何如何解决问题的信息。 E1抗干扰开发系统能采用不同的方式，向电子模块直接注入干扰电流、电场和磁场，在设备内部仿真干扰的过程，以定位电路板上电磁薄弱点，理解耦合机理，完成优化后的设计修改。 E1抗干扰开发系统不能按照某个标准进行兼容性测试。所以建议先对被测物进行标准的抗干扰测试（必要的话，在EMC实验室进行测试），然后对可能的故障原因进行分析，再利用E1抗干扰开发系统来找出更多的故障原因，并利用E1在产品开发场地进行设计修改的评估。
	高分辨率电磁干扰扫描系统 EMxpert EHX+	EMxpert EHX+ 高分辨率电磁干扰扫描系统具有1218个探头，内置高性能频谱分析仪能够实时看清电磁场，准确定位电磁干扰问题。EMxpert EHX+ 高分辨率电磁干扰扫描系统把EMC问题的考虑和抑制引入到设计阶段，让设计工程师及早发现问题，及时从根源采取有效措施，消除或抑制电磁干扰，从而加快产品的设计进程，提高设计质量，节省开发费用，确保产品及早通过EMC测试。
	E1 磁场探头 S2 set	电子设备和电子元件在干扰作用下会产生快速瞬态脉冲磁场，E1 磁场探头 S2 set探头组中包含的有源和无源磁场探头可以无反馈地测量这些快速瞬态脉冲磁场。借此就可以分析爆冲或ESD-过程，爆冲或ESD会对受测物产生干扰。磁场探头通过光纤连接把测得的信号传到SGZ 21的光学输入口。E1 磁场探头 S2 set探头组只能与脉冲群发生器SGZ21 连接使用。
	IC电磁发射测试系统 TEM小室法	依据IEC 61967-2的IC电磁发射测试系统-TEM小室法其实就是一个变型的同轴线，由一块扁平的芯板作为内导体，外导体为方形，两端呈锥形向通用的同轴器件过渡，一头连接同轴线到测试接收机，另一头连接匹配负载。IC电磁发射测试系统中的小室的外导体顶端有一个方形开口用于安装测试电路板。
	IC测试板 HS61967-1	依据IEC 61967-1 IC测试板，由接地平面、IC适配器、连接板等组成。集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132以及IEC 62215。
	IC电磁发射测试系统 1Ω/150Ω直接耦合法	依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法是根据集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
	IC脉冲群抗扰度测试系统 HS62215	IC脉冲群抗扰度测试系统是根据集成电路电磁兼容的测试标准设计的测试系统，IC脉冲群抗扰度测试系统主要有电磁发射测试标准IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试）、电磁抗扰度标准IEC 62132（用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试）以及脉冲抗扰度标准IEC 62215。
	PCB板电磁兼容扫描系统 RSE642	PCB板电磁兼容扫描系统配合高精度近场探头对集成电路进行高精度电磁场扫描，探头可三维移动，3D显示，快速定位；PCB板电磁兼容扫描系统还可连接温度探头，进行温度检测。
	电磁场扫描仪 EMC Scanner	EMC scanner电磁场扫描仪配合高精度近场探头对集成电路进行高精度电磁场扫描，EMC scanner电磁场扫描仪的探头可三维移动，3D显示，快速定位。
	四轴定位IC扫描仪 ICS 105 set	ICS 105型四轴定位IC扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。ICS 105 set 四轴定位IC扫描仪还可以单独订购的 ICR 型近场微探头适用于 1.5MHz 至 6GHz 频率范围内的测量，空间分辨率可达50μm。
	紧凑型电磁干扰扫描系统 EMxpert	EMxpert紧凑型电磁干扰扫描系统把EMC问题的考虑和抑制引入到设计阶段，让设计工程师及早发现问题，及时从根源采取有效措施，消除或抑制电磁干扰，从而加快产品的设计进程，提高设计质量，节省开发费用，确保产品及早通过EMC测试。EMxpert紧凑型电磁干扰扫描系统，由ISM电磁干扰扫描器、控制适配器以及频谱分析仪/接收机组成。