照相机ESD静电EMC整改案例
认证 描述：客户需要做CE认证，某一国产品牌照相机为了进入欧洲市场，需要做CE认证。其中有一项ESD 测试 ，在 EMC 实验室测试发现空气放电测试，芯片JL2003B(DIE) 会击穿硬损伤，导致**性坏掉，符合IE61000-4-2判定等级D，这样是不符合标准合格的要求。
EUT描述：相机采用JL2003B(DIE)主控芯片，Chipworks MC511DB PLCC-40PIN-45-12-8 图像传感器芯片， EM639165TS-6G内存……在进行空气静电放电在屏幕、快门按键、USB 接口以及LED灯出现硬件**性损坏。
整改 过程：首先拆机分析观察内部走线及器件布局及相关关键信号走向。首先，看到主控芯片的nRESET直接在USB 5V的一根飞线直接引入（因为是工程样机），这样不排除会导致USB对此飞线的影响。其次，仔细查看主控的供电部分，从D3.3V+其有经via跨越两层并无任何处理直接引入芯片，这个D3.3V+并无处理直接给LCD供电。*后，查看发现此LED的上部塑胶部分有漏出金属pin引脚。经过在主板上的逐级判断、电压等级的耐受度定性分析，进一步确定可得到是主板的主控芯片的静电抗扰度非常敏感。
整改方案：1，增强此主控芯片供电部分的静电抗扰能力
2，改变飞线走向
3，对LED上部金属部分进行绝缘处理
4，改善USB接口部分及电池供电部分的静电泄放能力
认证 描述：客户需要做CE认证，某一国产品牌照相机为了进入欧洲市场，需要做CE认证。其中有一项ESD 测试 ，在 EMC 实验室测试发现空气放电测试，芯片JL2003B(DIE) 会击穿硬损伤，导致**性坏掉，符合IE61000-4-2判定等级D，这样是不符合标准合格的要求。
EUT描述：相机采用JL2003B(DIE)主控芯片，Chipworks MC511DB PLCC-40PIN-45-12-8 图像传感器芯片， EM639165TS-6G内存……在进行空气静电放电在屏幕、快门按键、USB 接口以及LED灯出现硬件**性损坏。
整改 过程：首先拆机分析观察内部走线及器件布局及相关关键信号走向。首先，看到主控芯片的nRESET直接在USB 5V的一根飞线直接引入（因为是工程样机），这样不排除会导致USB对此飞线的影响。其次，仔细查看主控的供电部分，从D3.3V+其有经via跨越两层并无任何处理直接引入芯片，这个D3.3V+并无处理直接给LCD供电。*后，查看发现此LED的上部塑胶部分有漏出金属pin引脚。经过在主板上的逐级判断、电压等级的耐受度定性分析，进一步确定可得到是主板的主控芯片的静电抗扰度非常敏感。
整改方案：1，增强此主控芯片供电部分的静电抗扰能力
2，改变飞线走向
3，对LED上部金属部分进行绝缘处理
4，改善USB接口部分及电池供电部分的静电泄放能力
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