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电子产品特定有害物质测定标准IEC 62321 发布2013版本

 电子产品特定有害物质测定标准IEC 62321 发布2013版本

    IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通过*终国际标准版草案(FDIS) 阶段,目前已正式公布。有关电子产品中特定有害物质测定的标准- IEC 62321,概述了电子产品的测试方法,以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。如同以往,2008版的IEC 62321标准也经过了一段维护周期,现今再将*佳的操作和先进的技术引入测试程序,以确保实验的一致性和可靠度,满足标准的制定。

 IEC 标准
范围
62321-1
简介和概述
62321-2
样品的拆卸、拆解和机械拆分
62321-3-1
使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选
62321-3-2
使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选
62321-4
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞
62321-5
使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS确定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅

     2013版的*主要变化在于将文件拆分成一系列标准,以利标准维护,同时导入新的测试方法或仪器,例如燃烧- 离子层析仪(C-IC) 和冷蒸汽原子荧光光谱仪(CV-AFS)。
    在完成上述系列标准之后,目前还有另外四份标准正处于不同草案编制阶段; PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六价铬(IEC 62321-7-1和-2) 以及邻苯二甲酸酯(IEC 62321-8) 的测试方法。
    这些标准预计公布日期如下:
    2014年2月- IEC 62321-6
    2014年4月- IEC 62321-7-1
    2014年11月- IEC 62321-7-2
    2015年3月- IEC 62321-8
    详情参见:http://webstore.iec.ch/webstore/webstore.nsf/mysearchajax?Openform&key=62321,%2062321&sorting=&start=1&onglet=1
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