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恒流源常常被用到半导体器件的参数测量中

恒流源常常被用到半导体器件的参数值量测中。就如：量测晶体管的反向击穿电压时，若预先将恒流源调至调试条件要求的电流值，则对不同击穿电压的晶体管无需调整就可由电表或图示仪直读击穿电压的数值。不仅提高了调试效率，延长了仪器的使用寿命，且因限制了反向电流，不致损坏被测晶体管。其他如晶体管的热阻，二极管的反向压降。热敏电阻的阻值，乃至TTl集成电路的扇出系数和输出低电平等参数值的量测都应使用恒流源。同样，半导体材质参数值的量测也必须采用恒流源。因为半导体材质的电阻率对温度、光照和注入大小极为敏感。弱采用稳压电源供电，当电阻率改变时，调试电流也会变化。从而影响被测材质的参数值值，为了保持调试电流不变，只有采用恒流源供电。

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