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美国CPSC批准儿童产品基材中铅的替代测试方法

2012年2月21日，美国消费品**委员会（CPSC）正式批准CPSC-CH-E1001-08.3 和 CPSC-CH-E1002-08.3测试方法，允许两者使用X射线荧光光谱分析（X-ray fluorescence，XRF)作为检测儿童产品中铅的一种方法。CPSC-CH-E1001-08.3描述了有关金属物品的测试方法，而E1002-08.3针对的产品为玻璃/陶瓷、聚合物、织物和木材质地。这两种方法将在联邦公报上公布90天后正式生效，根据16 CFR 1112.4中设定的程序，实验室经认可后可使用这种技术。
新批准的方法根据定限量和可接受范围，对样本（均质材料）和X射线荧光光谱分析技术作了详细要求。在某些限量条件下，ASTM F2853-10e1中的能量色散型X射线光谱仪（一种能利用多重单色激光束的方法（高精度X射线光谱技术，HDXRF））被认为是合适的。如果样本为均质，且拥有合适的表面特征和几何结构，就可以在不拆解损坏样本的条件下，对其进行测试分析。
而电镀合金则不适用这种技术，必须使用其他方法。因为，“过度弯曲，表面纹理粗糙或样本厚度小于2毫米的，可能需要（其他）样本预处理技术”。此外，这两种测试方法都要求测试同个样本的不同部位以确保其空间均质性。
CPSC方法在对测试结果的解释提供了指南，如果测试结果加上或减去仪器的95%不确定性后，落在法定限量±30%的范围内，那么该结果应被视为“不确定的”。例如，当前基材中铅的限量为100ppm，如果某结果加上仪器的不确定性，落入130-70ppm的范围，那么它就是不确定的。需要使用传统的“湿化学”(wet chemistry)”方法进行额外的检测和分析。
测试方法还针对X射线分析仪不符合ASTM F2853-10e1中列出标准时的情况给出了指南。这涉及对仪器进行更为严格的校准和性能验证。

美国CPSC批准儿童产品基材中铅的替代测试方法

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