用于测厚仪与用于其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。用于磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁
特性及与探头的距离来检测覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到检测值的可靠性，
下面就这方面的问题作一下介绍。
1.边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致检测误差。
如必须检测该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能检测。（注：*新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10％
的精度）
2.基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在检测覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。