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HS-X系列SOE测试信号发生器的设计用途
HS-X系列SOE测试信号发生器的设计用途

     HS-X系列SOE测试信号发生器是专为DCS系统的SOE子系统校验而设计的。输出通道数可根据不同用户的需求在256-1024路定制，并可针对不同DCS厂商的接线方式，为用户提供专用的输出连接电缆。具有特殊设计的模拟无极性干接点输出，能够可靠触发各种输入结构的SOE通道。具有多个模拟触发通道(典型为256通道)，触发时间基准为高精度石英晶体震荡源，触发间隔时间可在0.1mS~5.0mS设置，**度达1uS以上。该设备使用操作极其方便。


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