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技术文章

常用电阻测试技术

广东省肇庆市万立电子设备厂http://www.wanli-dz.com/

  在半导体工艺中许多器件的重要参数和性能都与薄层电阻有关,为提高厚、薄膜集成电路和片式电阻的生产精度,需要使用设备仪器如探针台、激光调阻机对其进行测试或修调。一般所用的测量仪器或设备都包含连接、激励、测量和显示单元,有时还有后期数据处理单元。采用不同的测量方法和不同的连接方式引入的测量误差不同,得到的测量精度也不同。通常开关矩阵中继电器触点闭合电阻为1Ω左右,FET开关打开时的电阻为十几欧,引线电阻为几百毫欧。如何根据需要减少测量误差是测试技术的关键之一。

  在电阻测试中我们常采用恒流测压方法、惠斯通电桥(单臂电桥)和双臂电桥方法。

1、 恒流测压方法
      r是引线电阻与接触电阻之和;I是程控恒流电流源; V是具有极高输入阻抗的电压表,它对恒流电流源不产生分流作用。施加已知的恒定电流I,流过被测电阻R t,然后测量出电阻两端的电压V,当R t>> r时,根据公式Rt=V/ I就可算出电阻值。

2、惠斯通电桥方法
     V1,V 2是程控恒电压源;Rstd是标准电阻; Rt是被测电阻;I是电流表。当电桥平衡即流过电流表I的电流为零时,有V1 /V2=Rstd/R t,由此可计算出Rt=R std×V2/V1 。

3、 双臂电桥方法
      单臂电桥测量范围为10~106 Ω,单电桥测几欧姆的低电阻时,引线电阻和接触电阻已经不可忽略。而双臂电桥适用于10-6~102 Ω电阻的测量,它是改进的单臂电桥,如图3。将电桥中的中低电阻 Rt和R改成四端接法,并在桥路中增加两个高阻电阻R3和R4,则大大降低了引线电阻和接触电阻的影响。

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