4200-SCS 型半导体特性分析系统 4200-SCS 型半导体特性分析系统

4200-SCS 型半导体特性分析系统 主要特点及优点:

直观的、点击式Windows 操作环境
独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
支持 Keithley590 型与 Agilent 4284 型C-V 仪、Keithley 开关矩阵与Agilent 81110 脉冲发生器等多种外围设备
硬件由Keithley 交互式测试环境（KITE）来控制
用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充
包括驱动软件，支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台


容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了*先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。4200-SCS 提供了很大的灵活性，其硬件选项包括开关矩阵、Keithley 与Agilent C-V 仪以及脉冲发生器等多种选择。

4200-SCS为模块化结构配置非常灵活。系统*多可支持八个源－测量单元，包括*多四个具有1A/20W能力的大功率SMU。远端前置放大器选件 4200-PA，可以有效地减少长电缆所贡献的噪声，且使SMU扩大五个小电流量程，使其测量能力扩展到0.1fA。前置放大器模块同系统有机地组合成一体，从使用者看来，相当于扩充了SMU的测量分辨率。