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4200-HCI型热载流子效应测量系统 4200-HCI型热载流子效应测量系统

4200-HCI型热载流子效应测量系统 4200-HCI型热载流子效应测量系统
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产品型号：4200-HCI型热载流子效应测量系统
品 牌：美国吉时利
公司名称：成都赛诺威电子有限公司
所 在 地：四川成都
发布时间：2009-03-29
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产品简介

4200-HCI型热载流子效应测量系统 Keithley4200-SCS型热载流子效应测 量系统允许在晶片生产完毕后，进行**的热载流子衰变测试。

产品详细信息

4200-HCI型热载流子效应测量系统

4200-HCI型热载流子效应测量系统 Keithley4200-SCS型热载流子效应测 量系统允许在晶片生产完毕后，进行**的热载流子衰变测试。它将快速、低噪声测量仪表同灵活、方便的分析工具快速简易地结 合起来。当该系统与适当的探针台配对使用时，可以使用同样的电压应力条件与测试温度（一般是室温或低于室温的条件）用于测 试晶体管器件。

4200-HCI型热载流子效应测量系统

4200-HCI型热载流子效应测量系统 Keithley4200-SCS型热载流子效应测 量系统允许在晶片生产完毕后，进行**的热载流子衰变测试。它将快速、低噪声测量仪表同灵活、方便的分析工具快速简易地结 合起来。当该系统与适当的探针台配对使用时，可以使用同样的电压应力条件与测试温度（一般是室温或低于室温的条件）用于测 试晶体管器件。

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