DENSOKU测厚仪涂层厚度测量数据传输 QNIx系列便携式

电阻涂层测厚仪RST-231的特点

在 0.7 秒内测量绝缘层上的金属涂层

在短时间内（0.7秒）高精度
测量绝缘层（铜箔和印刷电路板的电镀等）上的金属膜。

易于阅读的屏幕配置

屏幕大、明亮，使用电脑时易于阅读。

易于校准和测量

易于校准和测量。 提供两种不同的测量范围（2~24μm、10~120μm）。

您可以立即看到各种图表。

经过统计处理后，直方图、剖面图和 x-R 控制图始终触手可及。

异常检测功能

如果您设置了薄膜厚度的上限和下限，您将收到异常值的通知。

易于处理统计数据

可以存储每个通道的测量数据，并可以设置统计项目，并在以后对测量数据进行统计处理。

*多可订阅 40 个频道

您*多可以注册 40 个通道，因此您可以通过按用户名和部件号分别注册通道来管理通道。

自1952年成立以来，我们DENSOKU通过广泛的薄膜厚度测量设备阵容，为日本表面处理行业做出了贡献，包括作为标准测量仪器的薄膜厚度计，这些测量仪器在通产省的JIS标准制定中作为标准测量仪器，并率先在行业中开发电解薄膜厚度计。我们的目标是建立一个能够为社会做出贡献的公司，并创造人类。我们不断努力提高自己的能力和人性，为员工创造幸福和公司发展。以更高的技术为目标，提供更上等的产品，为“客户满意度”服务。建立客户和业务合作伙伴信任的公司，并持续盈利。

DENSOKU/电测的产品分类：
  1、多点同步测量涡流膜厚计
  2、荧光X射线膜厚度计
  3、电解膜厚度计
  4、涡流膜厚度计
  5、电阻式膜厚计
  6、便携式薄膜厚度计

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线 
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度 
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3 
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式 
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准 

产品特点

• 高精度测量：采用高精度恒流源，确保测量精度可达±1%，分辨率高达0.001μm。
• 多层镀层分析：支持*多5层镀层的测量条件设定，包括多层镍镀层的电位差分析。
• 智能化操作：在微软视窗下作业，数据处理及机能性更加多样。软件具有电位图显示功能，可设定上下限值，超差时红色警示并伴有蜂鸣报警。
• 数据处理与管理：可对测量数据进行统计处理，包括平均值、标准差等，并可导出或打印数据，方便用户进行质量控制和报告生成。
• 非破坏式校准：具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪，确保测量精度的长期稳定。
• 适应性强：适用于多种金属基材（如铜、铝、钢等）及镀层（如金、银、镍、铬等），并能自动识别适用的电解液类型。

应用场景

技术参数

• 测量范围：0.006~300μm
• *小分解能：0.001μm
• 本体精度：±1%
• 测量单位：μm, mm, mil, MI
• 测量面积：
• A型测头：3.4mmΦ
• B型测头：2.5mmΦ
• C型测头：1.8mmΦ
• 电源：AC100V
• 本体尺寸：W265×D215×H138mm
• 重量：4.5kg