高精度日本电测DENSOKU镀膜测厚仪 EX-851

在金属镀层检测领域，日本电测(Densoku)的电解式测厚仪凭借其精度和可靠性赢得了全球用户的信赖。其中GCT-311、CT-6和CT-3三款机型构成了完整的产品矩阵，覆盖从基础品控到科研分析的各类需求。
日本电测的电解式测厚仪均基于法拉第电解定律，通过可控电流溶解镀层并依据溶解时间计算厚度，但三款机型在技术实现上存在显著差异。
GCT-311代表了该系列的*高技术水平，采用0.1%稳定性的高精度恒流源，支持多达四层镀层(含扩散层)的逐层分析。其0.001Mm(1nm)的分辨率能够满足*严苛的科研需求，特别适合航空航天多层镍镀层的电位差分析(STEP测试)等高应用。该机型还具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪。
CT-6则针对工业环境进行了优化，采用快速电解算法，单次测量时间可控制在30秒以内，大幅提升产线检测效率。虽然其具体测量范围未公开，但专注于工业快速检测的平衡性设计使其在半导体薄膜(如SiO2、SiN4)测量方面表现突出，可适配特殊电解液。CT-6的精度保持在1%，但牺牲了部分多层分析能力，*大仅支持两层镀层的测量。
CT-3作为经济型选择，保留了0.001Mm分辨率和1%精度的基础性能，采用机械式刻度盘调节而非电脑控制，操作更为简单直接。它支持三层镀层(含扩散层)的测量，在超薄层(<1um)与厚镀层(300um)检测方面表现出色。CT-3的IP54防尘等级使其能够适应车间等相对恶劣的环境。

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度 
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3 
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式 
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准 

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线

X射线荧光涂层测厚仪EX-851的特点

X射线荧光涂层厚度计EX-851的特点

可选择两种测量模式

提供两种模式可供选择，使
测量作能够平稳地满足具体应用需求。

多测量与多校准曲线

坐标被注册以自动
测量激光点辐照位置的多个点。 多个点可以用不同的校准曲线进行测量。

胶片厚度测量中的光谱显示

胶片厚度测量中的光谱显示 多通道光谱分析 快速处理，用于简单被测物体的光谱显示（处理速度2~3秒）

显示测量单位监控屏幕

将X射线照射部分导入Windows屏幕，并显示X射线照射部分。
准直器实现放大变化函数，改变尺寸。

自动测量模式

当测量对象设置在激光笔照射位置并关闭门时，载物台自动移动并
自动进行测量。

手动测量模式

测量对象设置在激光笔照射位置，当门关闭时，载物台自动移动，
甚至聚焦在它上面。

配备自动对焦功能

采用激光自动对焦。
自动对焦提高工作速度。

测量台移动精度 1μm

测量台移动的精度提高（是当前产品的50倍），通过坐标设置的
连续测量和移动到指定位置，实现了**的载物台移动。

双过滤器

除了气动过滤器外，使用机械过滤器（双过滤器）还可以让您在条件下进行测量，以确保始终保持精度。

完整的报告创建功能

通过采用MS-Window软件，可以轻松捕获测量屏幕，并增强报告创建功能。 多任务处理功能允许在测量时进行其他处理，包括报告。

5 个内置准直器

准直器的*小尺寸为 0.1 φ mm，可以测量极小的零件。 标准：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
此外，还可以选择特殊规格。

自我诊断和 X 射线管维护功能

自诊断功能可立即响应设备故障排除。 此外，X射线管还增加了显示使用时间和耐久性时间的功能，以支持维护**。