低相位差高速检测设备 cp-001

产品特点

• 可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)。
• 检测光学轴的同时，同步高速测量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同时量测)
• 偏光检测仪无任何驱动元件干扰，可提高再现性量测精度。
• 无需复杂参数设定，操作简单易懂。
• 550nm以外，亦可支援其它波长量测。
• Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置)
• 搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。(特殊规格)

量测项目

量测原理

RE-100，系采用光结晶像素与CCD感光元件所构成的偏光检测仪。搭配带有穿透率特性的各种偏光元件，可以高速同时进行相位差与光学轴的量测。 CCD感光元件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往，不需要再使用任何的驱动元件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的精度、更具备长时间使用的安定性。
 

产品规格

*1 可选择其他波长
*2 量测水晶波长板之精度(约55nm，2枚型)

应用范围

■相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜、
■树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)

量测范例

■ 视野角改善膜A 
■ 视野角改善膜B

选配附件

自动旋转倾斜装置