液晶层间隙(Cell gap)量测设备以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TF

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产品型号：以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TF

品牌：OTSUKA大冢光学

公司名称：苏州市新杉本电子科技有限公司

所在地：江苏苏州

发布时间：2017-03-31

浏览次数：405 次

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产品简介

以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。
除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可量测液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。

产品详细信息

产品特点

以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。
除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可量测液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。

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膜厚光谱分析仪系统
相位差/光学材料量测设备

量测项目

膜厚测量
Cell测量

产品规格

样品对应尺寸	20mm×20mm ～大型尺寸玻璃基板(2000mm×2000mm以上)
液晶层间隙量测范围	0.1μm ～数十μm
液晶层间隙量测再现性	±0.005μm
检测器	分光光谱仪
量测波长范围	400 ～ 800nm
光学系统	偏光光学系统消光率10^-5方解石偏光片(Gran-tomson prism) 自动旋转(角度精度0.1°) 自动装卸装置
量测口径	φ2, 5, 10 (mm)
光轴倾斜角度	-10 ～ 45°(选配功能)
重量	约60kg