C测试仪 日本日置 HIOKI 3505/ 3506
产品简介
3505/ 3506 C测试仪 日本日置 HIOKI
产品详细信息
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
- 反复测量精度更高,*适合生产线
- 校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
- 测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
- 比较器的设定值和测定值的同步显示
- 2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
- 根据BIN的测定区分容量
- 比测仪和触发器同步输出功能
测量参数 | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
测量范围 | C:0.001fF~15.0000μF D: 0.00001 ~ 1.99999 Q:0.0 ~ 19999.9 |
基本精度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数 |
测量频率 | 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
输出电阻 | 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程, 在100 kHz 时22 nF 以上量程) |
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 代表值: 2.0 ms (FAST) ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
机能 | BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大40VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1 |