phoenix v|tome|x L 240 L240

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产品型号：L240

品牌：GE

公司名称：锐驰科技有限公司

所在地：上海徐汇

发布时间：2012-12-05

浏览次数：4349 次

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产品简介

phoenix v|tome|x L 240是一个高分辨率微焦点??计算机断层扫描(micro ct)系统，用于如大型铸件，焊接接缝，电子设备和更多的三维计算机断层扫描和二维无损X射线检测。

产品详细信息

phoenix v|tome|x L 240的主要功能以及优点

240 千伏 / 320 瓦开放微焦点X射线管
可选的2 种X射线源（240千伏微米焦点管和180千伏高功率纳米焦点管）
高达10倍的增加的灯丝寿命，通过长寿命的|灯丝(可选)确保长期稳定性和*佳系统概率
通过菱形|窗口（可选）以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集
通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器获取的30 FPS(帧每秒)(可选)的快速CT采集和清晰的影像

phoenix v|tome|x L 240的应用

1、三维计算机断层扫描

工业X射线三维计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct) 的经典应用是对金属和塑料铸

件的检测和三维测量。然而， phoenix| X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新

应用，如传感器技术、电子、材料科学以及许多其他自然科学。涡轮叶片是复杂的高性能铸

件,要满足*高质量和**性的要求。 CT可进行故障分析以及**的三维测量（如壁厚）。

2、测量
用X射线进行的三维测量是**的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。通过与传统

的触觉坐标测量技术的对比，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得所有的曲面点 -

包括所有无法使用其他测量方法无损进入的隐蔽形体，如底切。 v|tome|x s 有一个特殊的三

维测量包，其中包含空间测量所需的所有工具，从校准仪器到表面提取模块,具有可能的*大

精度，可再现且具有亲和力. 除了二维壁厚测量，CT体数据可以快速方便地与CAD数据进行比

较，例如，分析完成元件，以确保其符合所有的规定尺寸。CAD 差异分析和测量对气缸盖3个

装置。

3、材料科学

高分辨率计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct)用于检测材料、复合材料、烧结材料

和陶瓷，但也用来对地质或生物样品进行分析。材料分配、空隙率和裂缝在微观分辨率上是

三维可视的。玻璃纤维增??强塑料制成的物体的nanoCT ®：玻璃纤维和矿物填料（紫色）的

凝聚体的方位和分布都清晰可见。纤维宽度大约为 10 µm.

4、铸件与焊接

射线无损检测用于检测铸件和焊缝缺陷。微焦点X射线技术和工业X射线计算机断层扫描

(mico ct)的结合，使得微米范围内的缺陷探测成为可能，并提供低对比度缺陷的三维图像。

铸铝活塞的CT图像显示被检测对象的隐藏的轮廓和内表面，包括一些空洞，可自动计算其

尺寸和位置。层析图像是三维测量的基础（表面重构和标准实际值比较）。

phoenix v|tome|x L 240的规格表

*大管电压	240 千伏
*大功率	320 瓦
细节检测能力	高达1微米
*小焦物距	4.5 毫米
*大体素分辨率（取决于物体大小）	< 2 µm
几何倍率（2D）	1.25 倍到 333 倍
几何放大倍率 (3D)	1.25 倍到 200 倍
*大目标尺寸(高 x 直径)	600毫米 x 500毫米 / 23.6" x 19.7"
*大物体重量	50千克/ 110.23磅
操作	基于花岗岩的7轴操作器可提供长期的稳定性与*高的精密度
2维X射线成像	可以
三维计算机断层扫描	可以
先进的表面提取	可以（可选）
CAD 比较+ 尺寸测量	可以（可选）
系统尺寸	3900 毫米 x 2400 毫米 x 2700 毫米 / 154” x 94.5” x 106”
系统重量	大约 16,5 吨 / 36376 磅
辐射**	- 全防辐射**柜，按照德国ROV（附件2 nr. 3）和美国性能标准21 CFR 1020.40（机柜X射线系统） - 辐射泄漏率: < 1.0 µSv/h从机柜壁的10厘米处测量