北京集成电路测试技术联合实验室启动

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点击量: 243764 来源: 科学时报

  本报北京11月30日讯(记者黄明明) 由中国科学院微电子研究所与北京自动测试技术研究所联合成立的“北京集成电路测试技术联合实验室”今天在京启动。

  北京科学技术研究院院长丁辉在启动仪式上宣布,联合实验室主任由北京自动测试技术所所长张东和中科院微电子所微电子设备技术研究室主任夏洋共同担任。他在致辞中表示,目前北京已经初步形成了从集成电路设计、制造、封装、测试、制造设备到材料研制较为完善的微电子产业链。北京自动测试技术研究所作为国内**专门从事集成电路测试技术研究,与专门从事微电子领域研究开发的中科院微电子研究所的合作,将为我国集成电路测试技术研发进一步增加助推力。

  目前,全球集成电路产业正向中国转移,特别是进入系统级芯片、系统封装时代以后,对测试技术提出了新的挑战。2009年初,北京自动测试技术研究所与中科院微电子研究所签订了战略合作协议,双方决定共同组建“北京集成电路测试服务产业联盟”和“北京集成电路测试技术联合实验室”,为北京地区集成电路产业提供专业化、深层次、一站式的测试服务。

  夏洋介绍,联合实验室将建立北京市集成电路测试联盟,为科技北京服务;将开展新一代数模混合测试系统研发,Hall、功率器件参数测试系统研发,进行核心测试设备国产化研发;将建立集成电路测试技术服务网络平台,建设集成电路测试规范;同时进行测试程序开发、测试服务和人才培养等方面的工作。